EMBED是一種小體積的光譜儀，用于工業過程控制和OEM的光學測量系統。 EMBED具有極佳的熱穩定性和測量可靠性，因其基本電子元件的數量被減少到最小，從而使得它的體積小而且集成過程簡單。 由于其穩健的板載電子元件，EMBED具有基本的光譜預處理和多通道功能，以及本地SPI通信支持功能，從而建立了與微控制器和工業控制系統的快速穩定接口。 EMBED需要通過高級別的電氣工程進行定制，僅向OEM客戶推薦。 其設計適用于進行高規格定制和批量生產,從而可以滿足各種應用需求。
產品詳情：
無縫集成 —用于OEM和工業的集成應用
高熱穩定性 — 非常適用于溫度變化大和有挑戰性的環境
SPI或USB通信 — 可選擇多種數據接口
規格：
工程規格 | EMBED光譜儀 |
探測器： | Sony ILX511B |
檢測器范圍： | 200-1100納米 |
焦距（輸入）： | 42毫米 |
焦距（輸出）： | 68毫米（還可提供75毫米，83毫米和90毫米） |
光柵： | 200-1100納米范圍內多種選擇 |
入射狹縫： | 5微米，10微米，25微米，50微米，100微米200微米 |
光纖連接器： | SMA 905 |
集成時間： | 1毫秒-60秒 |
光學分辨率： | 約0.3-10.0納米（半峰寬）（取決于光柵和狹縫） |
動態范圍（典型配置）： | 1300:1（每個像素） |
信噪比： | 250:1（單次采集） |
雜散光： | 600納米時小于0.05%；435納米時小于0.10% |
電源要求： | 100毫安，3.3伏直流 |
電源電壓： | 2.63-3.3伏直流 |
模數轉換器： | 16位，3.3兆赫 |