熒光Ⅹ射線分析的基本介紹

　　熒光X射線分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。

　　1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一臺波長色散X射線熒光分析儀，至60年代本法在分析領域的地位得以確立。