一、X一射線熒光分析儀(XRF)簡介
X一射線熒光分析儀(XRF)是一種較新型的可以對多元眾進行快速同時側定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X一熒光).波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩
個物理I.波長色徽型X射線熒光光諾儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探側移接收經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控側器作同步運動.不斷地改變衍射角.便可獲得祥品內各種無索所產生的特征X射線的波長及各個彼長X射線的強度.可以據此進行定性分析和定I分析.該種儀器產生于4年代，由于可以對復雜體系進行多組分同時側定.受到硯注.特別在地質部門，先后配工了這種儀器.分析邃度顯著提高，起了I要作用。隨著科學技術的進步，在60年代初發明了半導體探洲器以后，對X一炙光進行能譜分析成為可能。能譜色散皿R射線熒光光譜儀(ED-XRF).用X射線管產生原級X射線服射到樣品上，所產生的特征X射線(熒光)直接進入Si (Li)探側器，便可以據此進行定性分析和定f分析.第一臺ED-XRF是iIL1年問世的.近幾年來.由于商品ED-XRF儀器及計算機軟件的發展，功能完普，應用領城拓寬，其特點、優越性日益受到認識，發展迅猛.
二、波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀的區別
雖然故長色傲型(ED-XRF)X射線熒光光滋儀與能I色徽M (ED-XRF) X射線熒光光譜儀同月于x射線熒光分析儀，它們產生信號的方法相同，最后得到的波譜或能譜也極為相似.但由于采集數據的方式不同，WD-XRF(波譜)與WD-XRF(能譜)在原理和儀器結構上有所不同，功能也有區別。