分析測試百科網訊 2015年9月2日，日本電子于皮博迪推出一款新型場發射掃描電鏡JSM-7200F。日本電子JSM-7200F掃描電鏡在1.0kV的條件下擁有1.6nm的超高空間分辨率和300nA的高探針電流。此外，日本電子JSM-7200F掃描電鏡緊湊的外觀設計方便用戶安裝，友好的界面系統也易于用戶進行操作。
日本電子場發射掃描電鏡JSM-7200F
日本電子JSM-7200F掃描電鏡設有鏡頭探測器，可以通過不同的內置能量過濾器采集各種信號，使得儀器可以在很短的時間內獲得大量數據。JSM-7200F掃描電鏡的這種高通量性能很適用于當今的快節奏制造環境。而對于研究環境來說，它則為分析員們提供了多種對比機制。利用EDS、 WDS、 EBSD、STEM、BSE和CL可以很容易和有效地進行無縫觀察和分析。
日本電子JSM-7200F掃描電鏡可用于任何類型的樣品分析，包括磁性樣品、非導電材料、生物標本以及半導體器件。該儀器是日本電子場發射掃描電鏡系列的新成員，此外還包括JSM-7800F PRIME掃描電鏡。
日本電子JSM-7200F掃描電鏡與Gatan 3View?成像系統集成后，也可以作為理想的神經科學應用程序或其他3D成像應用。
日本電子JSM-7200F掃描電鏡在同類產品中屬于一個低端向的掃描電鏡，但是它可以為各種分析提供一個很好的分辨率、快速的采集速度以及最小的光束停留時間，并在多用戶環境中提供一個遠程操作和診斷功能。
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