射線探傷儀簡介

　　射線探傷儀是利用射線穿過物體時物體局部區域結構差異從而改變物體對射線的衰減，然后檢測透射射線強度，判斷物體內部的缺陷和物質分布的儀器 [1] 。射線探傷儀器主要分為X射線探傷儀和γ射線探傷儀兩種，廣泛應用于工業判斷工件合格與否。詞條 詳細介紹了兩種探傷儀的工作原理、組成與分類等。