熒光光譜儀又稱熒光分光光度計,是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測,可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性,以及熒光的淬滅方面的信息。
結構
由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。
分類
熒光光譜儀可分為X射線熒光光譜儀和分子熒光光譜儀。
原理
主要用途
1.熒光激發光譜和熒光發射光譜
2.同步熒光(波長和能量)掃描光譜
3.3D(Ex Em Intensity)
4.Time Base和CWA(固定波長單點測量)
5.熒光壽命測量,包括壽命分辨及時間分辨
6.計算機采集光譜數據和處理數據(Datamax和Gram32)
類別 指標
儀器類別: 03030429 /儀器儀表 /成份分析儀器 /X熒光譜儀
指標信息:
激發光源 Xe 450W
激發單色儀:4nm/mm,200nm～700nm
發射單色儀:雙色單儀,2nm/mm,300～1000nm
光譜測量范圍:240nm～850nm
靈敏度:水喇曼信噪比4000:1(397nm/5nm bandpass)
壽命響應范圍:10ps～10μs
新型型號
x射線熒光光譜儀
主要用途
儀器是較新型X射線熒光光譜儀,具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結果,結果準確度對某些樣品可以接近定量水平,分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。測量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.
儀器類別
0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計
指標信息
1.發射源是Rh靶X光管,最大電流125mA,電壓60kV,最大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作,真空度<13pascals 3.5塊分析晶體,可以分析元素周期表F～U之間所有元素,含量范圍是ppm～100% 4.分析軟件是Philips公司(現為PANalytical)最新版軟件,既可作半定量,也可定量分析。精密度:在計算率N=1483870時, RSD=0.08% 穩定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%
附件信息: 循環水致冷單元,計算機 P10氣體瓶空氣壓縮機
優點
靈敏度高,無破壞性和選擇性好