何為激光粒度儀的測量下限

    激光粒度儀測量粒度的原理是米氏散射理論。米氏散射理論用數學語言精確地描述了折射率為n、吸收率為m的特定物質的粒徑為d的球形顆粒，在波長為λ單色光照射下，散射光強度隨散射角θ變化呈空間分布函數，此函數也稱為散射譜。根據米氏散射理論可以得出顆粒越大，前向散射越強而后向散射越弱；隨著顆粒粒徑的減小，前向散射迅速減弱而后向散射逐漸增強。圖2是以波長為尺度的大、中、小顆粒的散射譜示意圖。激光粒度儀正是通過設置在不同散射角度的光電探測器陣列，測試顆粒的散射光強分布(在極坐標下)，由此確定顆粒粒徑的大小。這種散射譜對于特定顆粒在空間具有穩定分布的特征，因此稱此種原理的儀器為靜態激光粒度儀。
    當顆粒粒徑小到一定程度（波長的1/10左右）時，光強分布變成了兩個相互有重疊的圓。當顆粒非常小時，則前向圓和后向圓完全對稱（此時稱為瑞利散射）。所以當粒徑為dm的顆粒，其散射光強分布與非常小顆粒的散射光強分布相似，以至不能被光電探測器陣列及后續的信號處理電路所分辨，則認為dm就是激光粒度儀的測量下限。
    此極限還與激光波長有關，研究表明：紅光635 nm波長的激光粒度儀的測量極限為50 nm，而藍光405 nm波長的激光粒度儀的測量極限為30 nm。
    理論上，靜態激光粒度儀欲分辨納米級的顆粒至少需要兩個條件：1，具有測量后向散射的光電探測器陣列；2，需要用波長更短的激光器。在可見光的范圍內，30nm~50nm是靜態激光粒度儀的測量下限。